国立東京工業高等専門学校 シラバス 国立東京工業高等専門学校トップページへ戻る シラバス 閲覧戻る
教科目名
機器分析Ⅱ
担 当 教 官 城石 英伸,赤尾 賢一,木村 真之
学年、学科等 4年 物質工学科 通常講義
単位数 期間 必修 1 単位 後期 週2時間 (合計 30 時間)
授業の目標と概要
 機器分析の原理、測定方法を理解し、測定データが解析できるようにする。
カリキュラムにおける位置づけ
 分析化学、有機化学、無機化学、機器分析Iと関連する。高学年においては卒業研究、高分子化学II、物性物理学、
錯体化学と関連する。
授業の内容 時間
以下の測定機器の原理、測定・解析方法について順に概説する。
1. X線光電子分光法 4
2. 電気化学測定法入門 9
3. 赤外とラマンの基礎/トピックス 8
4. 分光分析の基礎/日本の先端技術 8
学年末試験 1
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
   
教科書
 特になし
補助教科書
履修上の注意
 特になし
評価基準
 期末試験で60点以上とること。
評価法
定期試験100%
学習・教育目標 東京高専
C-3,C-4,C-6,C-7,C-8
JABEE
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