| １．評価の基礎 （４時間） ：対象とする材料の評価方法についての全体像を把握する。 |
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| ・機器分析概論 |
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| ２．表面解析 （４時間） ：各種顕微鏡の原理と特徴について学ぶ。 |
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| ・透過型電子顕微鏡（TEM） |
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| ・走査型電子顕微鏡（SEM） |
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| ・その他（SPM、AFM） |
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| ３．組成解析 （４時間） ：組成解析のための分析機器の原理と特徴について学ぶ。 |
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| ・オージェマイクロプローブ（AES） |
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| ・X線光電子分光装置（XPS） |
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| ・蛍光X線分析装置（XRF） |
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| ４．構造解析（８時間） ：利用する電磁波の基礎について学習し、各種測定法について理解する。 |
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| ・X線回折装置（XRD） |
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| ・電子回折装置（LEED） |
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| ・赤外分光光度計（IR） |
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| ・ラマン分光光度計（Raman） |
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| ・紫外可視分光光度計（UV-Vis） |
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| ・電子スピン共鳴（ESR） |
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| ・核磁気共鳴装置（NMR） |
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| ５．質量分析 （５時間） ：質量分析計の原理と特徴について学び、さらにGCやLCを組み合わせた複合 |
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| 型分析計について理解する。 |
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| ・質量分析計（MS、Q-MS） |
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| ・複合質量分析計（GC‐MS、LC‐MS、ICP−MS） |
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| ６．濃度解析 （４時間） ：濃度分析法について学習し各種測定装置の原理や特徴を理解する。 |
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| ・吸光光度法，蛍光光度法 |
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| ・電気化学分析法 |
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