教科目名
機器分析Ⅱ
担 当 教 官
：
高橋 三男，北折 典之，町田 茂，土屋 賢一，城石 英伸
学年、学科等
：
4年
物質工学科
通常講義
単位数 期間
：
必修
1 単位
後期
週2時間
（合計 30 時間）
授業の目標と概要
機器分析の原理、測定方法を理解し、測定データが解析できるようにする。
カリキュラムにおける位置づけ
分析化学、有機化学、無機化学、機器分析Iと関連する。高学年においては卒業研究、高分子化学II、物性物理学、
錯体化学と関連する。
授業の内容
時間
以下の測定機器の原理、測定・解析方法について順に概説する。
１．熱分析（高橋）
4
熱分析の技法：示差熱分析（ＤＴＡ), 示差走査熱分析（ＤＳＣ), 熱重量測定（ＴＧ）について解説す
る。
２．磁化測定（北折）
4
磁場の強さ、磁束密度および磁化の強さを測定する基本的な装置について解説する。
３．NMR、IR（町田）
6
NMRとIRの測定原理，装置の構成，試料の調製方法，解析方法について解説する。
４．ラマン分光分析（土屋）
4
まず、格子振動及び分子振動について解説を行う。次にラマン散乱のメカニズム、格子振動や分子振動の
測定法について解説する。
５．XPS （城石）
2
６．表面積・細孔分布（城石）
2
７．電気化学分析（城石）
6
８．まとめとレポート作成
2
（続き）
教科目名
機器分析Ⅱ
教科書
特になし
補助教科書
履修上の注意
特になし
評価基準
機器の使い方・分析法など習得したことを記述するレポートで６０点以上とること。
評価法
レポートなど100%
学習・教育目標
東京高専
C-3,C-4,C-6,C-7,C-8
JABEE
(c)(d)
